Mapp XT Virtual SIM y M-Noise nuevos cursos online en directo de Meyer Sound 26 Mayo y 28 Mayo

Mapp XT Virtual SIM y M-Noise

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  • introducción al software de predicción acústica Mapp XT.

Regístrate para asistir el 26 Mayo

  • M-Noise Registrate para asistir el 28 Mayo

Regístrate para sistir en 28 de Mayo

Meyer Sound ha presentado M‑Noise, una nueva señal de test que facilitará la medición estandarizada de la salida lineal máxima de un sistema de altavoces. Se trata de una señal derivada matemáticamente que emula efectivamente las características dinámicas de la música, permitiendo una medición mucho más precisa del SPL de pico lineal en cualquier aplicación que requiera la reproducción de contenido musical.

La fórmula matemática para generar M-Noise se derivó de un extenso análisis espectral de una amplia variedad de material musical. En particular, el análisis midió los diversos factores de cresta en la música y cómo se comparan estas mediciones con el ruido rosa (el factor de cresta es la diferencia entre el promedio y los niveles máximos instantáneos de una señal). Se descubrió que los factores de la cresta de la música y el ruido rosa eran similares a frecuencias por debajo de los 500 Hz, pero que la música mostraba un factor de cresta en constante aumento a frecuencias más altas.

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